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校验时通入电流过大,导致保护采样板烧坏事件

来源:www.bucthole.com    更新时间:2018-03-22

(1)事故经过;
35KV线路执行整定书中,零序保护动作不正确。经查发现CSL201采样板上零序TA在以前的校验中被烧坏,严重变形。经与厂家联系得到答复,零序TAzui大电流为20A,而该线路过流整定值为37A。
(2)事故总结:
对于微机保护装置的零序电流采样元件串接于相电流采样元件之后,以及电磁型保护中零序电流继电器串接于相电流继电器之后的情况。在进行过电流保护校验时应通入相间电流校验,不可通入单相电流校验。因为过电流定值较高,零序保护定值较低,防止单相通入电流太大而烧坏零序回路上的采样元件。
 


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