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MEMD-2000 SF6密度继电器校验仪干扰物质

来源：www.bucthole.com 更新时间：2018-11-12

MEMD-2000 SF6密度继电器校验仪干扰物质
a.固体杂质及油污。绝对不溶于水的固体杂质不会改变气体的露点,但会妨碍对出露的观测。在自动仪器中,对镜面污染如果没有采用补偿装置,在低露点测量时,有时会因镜面上附着固体杂质使测得的露点值偏高,这时需用适当溶剂对镜面人工清洗。为了防止固体杂质的干扰,zui好在仪器入口设置不吸附水分的过滤器。
如果被测气体中有油污,应在气体进入测量室前除去。
b.以蒸气形式存在的杂质。如果气体中以蒸气形式存在的杂质(如烃类)会先于水蒸气而结露,或者气体中含有能与水共同在镜面上凝结的物质(如甲醇),则必须先采取措施除掉。如果烃类的露点低于水蒸气的露点,则不会影响測定。通常在SF6的测定中,不需考虑蒸气杂质的干扰。
2)冷壁效应。除冷镜外,仪器其余部分和管道的温度应高于气体露点至少2℃,否则水蒸气将在zui冷点凝结,从而改变气体样品中的水分含量。
3)流量控制。由于气体露点和流量无关,一般露点仪不要求准确调节流量,但通常仍有一定范围的限制。流量太小则响应时间过长,太大既易引起制冷元件功率不足而影响镜面降温,又会在管线上产生压力降,改变测量室内的压力,从而改变气体的露点。
4)降温速度。如果气体湿度很低,冷却镜面时降温速度应尽可能慢。因为这时冰的结晶过程比较缓慢,若以不适当的速度降温,在冰层生长和达到稳定之前,还没有观测到出露,温度却已大大低于露点,这就是过冷现象。光电露点仪通常不能人工控制降温速度,所以在低露点测量时,仪器示值往往呈阻尼振荡趋势变化,需经过较长时间才能稳定。这就是露的凝结和消失滞后于温度的变化而引起的。
5)带压测量。露点测量通常是在常压下进行的,即先将待测气体减压至常压后再送入测量室,但如气体湿度很低,有可能出现气体露点低于仪器测量下限的情况。特别是在炎热的夏季,高温环境影响了仪器制冷系统能够达到的zui低温。在这种情况下,可进行带压测量,提高测量室内气体的压力,从而提高气体的露点使其在仪器的测量范围内,zui后再通过计算得到常压下的露点。
通常露点仪测量室的进出口各有一个流量阀,常压测量时,出口阀全开,用进口阀控制流量并起减压的作用,使测量室内的压力与大气压相等。带压测量时,则进口阀全开,用出口阀控制流量,此时流量室内的压力与取样管道内的压力相等。要进行带压测量,首先必须确定仪器允许在带压下工作,另外还需要比较准确的知道管道内气体的压力(如果仪器测量室内不带压力传感器)。
6)露点与霜点的区分。镜面温度在0--20℃时,镜面上的冷凝物可能是露(过冷试水),也可能是霜(冰),此时必须通过镜面冷凝状态观察镜仔细区别,因为相同温度下的过冷水和冰的饱和蒸气压并不相同。一些适合现场使用的露点仪没有观察镜,无法区分露和霜,在这种情况下一般当作霜点处理。

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